SunScan 冠層分析系統（有線）

一用途：通過測量作物冠層PAR值，提供影響田間作物生長的限制因素的有價值的信息，如葉面積指數（LAI）

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一 用途：

通過測量作物冠層PAR值，提供影響田間作物生長的限制因素的有價值的信息，如葉面積指數（LAI）。SunScan探測器也可被用來描繪作物冠層PAR的分布圖。

二 原理：

根據冠層吸收的Beer法則、Wood的SunScan冠層分析方程以及Campbell的橢圓葉面角度分布方程 (Campbell’s Ellipsoidal LAD equations)，使用光量子傳感器來測量、計算和分析植物冠層截獲和穿透的光合有效輻射及葉面積指數。

三 軟件計算

Sunscan系統主要是通過測量冠層截獲的光合有效輻射量(PAR)來計算葉面積指數（LAI），軟件中涉及到的參數有：

直射和散射入射輻射光、葉面積指數、葉片透光率、葉傾角、天頂角、穿透輻射。在這幾個參數中，天頂角是根據當地的時間、經度和緯度來計算的，葉片透光率和葉傾角是需要用戶自己估計的，其他的參數都是直接測量得出的。

四 組成：

* SS1探頭：一支1米長，內嵌64個光合有效輻射傳感器的的探測器

* SunData軟件：用來對測量參數進行分析處理

* BF5傳感器：可計算出作物冠層的PAR以及直射光與漫射光的比例關系。減少太陽變化對測量造成的影響。內置自加熱功能，減少雪凍影響。

* 三角架：用來安放BF5

* RPDA3數據采集終端：一種采集和分析讀數的高效、輕便的掌上電腦。

五 基本技術指標：

六 產地： 英國

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